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  • 產品名稱：SP-601型方形四探針探頭

  • 產品型號：方塊電阻測試儀測頭
  • 產品廠商：深圳時代之峰科技有限公司
  • 產品文檔：
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簡單介紹：
SP-601型方形四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭，專用于測量小樣品的四探針探頭，可用于一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
詳情介紹：

SP-601型方形四探針探頭

SP-601型方形四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭，專用于測量小樣品的四探針探頭，可用于一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

SP-601型方形四探針探頭特性及規(guī)格：

1；特制之手握式探筆
2；球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷
3；探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數據集成模塊燒壞
4；探頭使用壽命長
5；探針間距：1.59mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

SP-601型方形四探針探頭

型號
(Model)

曲率半徑
(Radius)

壓力
(loads)

探針間距
(spacing)

探針排列
(Arrangement)

SP-601

0.5mm

100g

1.59mm

方形

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