CSK-IIA-1試塊測試方法

該類試塊依據(jù)承壓設(shè)備I型焊接接頭超聲檢測要求而設(shè)計(jì)，適用于將斜探頭、直探頭檢測工件厚度范圍為6mm～200mm的Ⅰ型焊接接頭。試塊設(shè)計(jì)內(nèi)容見下表：

橫波靈敏度的設(shè)定：將選用已校驗(yàn)好的的斜探頭

探頭置于示意圖9中a位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為**點(diǎn)。

探頭置于示意圖9中b位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為**點(diǎn)。

探頭置于示意圖9中c位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第三點(diǎn)。

探頭置于示意圖9中d位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第四點(diǎn)。

探頭置于示意圖9中e位置，前后移動探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第五點(diǎn)。

探頭置于示意圖9中f位置，前后移動探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第六點(diǎn)。

將以上六點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線。

縱波靈敏度設(shè)定：將選用已校驗(yàn)好的直探頭

置于示意圖9中g(shù)位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為**點(diǎn)。

探頭置于示意圖9中h位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為**點(diǎn)。

探頭置于示意圖9中i位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第三點(diǎn)。

探頭置于示意圖9中j位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第四點(diǎn)。

探頭置于示意圖9中k位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第五點(diǎn)。

探頭置于示意圖9中L位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第六點(diǎn)。

將以上六點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線，此時(shí)的靈敏度即為基準(zhǔn)靈敏度。